文献综述
文 献 综 述我国关于畴结构的研究文献浩如烟海，本文仅选取典型方法进行探讨研究，并提出自己的拙见。
铁电材料具有一系列特性，如压电性、热释电性、铁电性和非线性电光特性等，这些性质使其在现代科学技术中具有重要而广泛的应用，正是由于这个原因使铁电材料成为国际科学与技术研究中热点领域之一。
任何材料的宏观性能都是由材料的微观结构决定研究的。
对铁材料而言，电畴的研究是深入了解铁电体宏观性质的基本手段之一。
电畴结构对于材料的特性能起到一定的决定作用，所以铁电畴的观察和分析是铁电材料研究的一个重要部分。
多年来，已开发了多种研究铁电畴的手段，如化学腐蚀法、偏光显微镜、粉末花样技术、扫描电子声显微镜（SEAM）、扫描电子显微镜（SEM）、透射电子显微镜（TEM）、开尔文力显微镜(KFM)等。
一、化学腐蚀法化学腐蚀法是观测电畴的最简单的方法。
其原理是利用铁电体在酸中腐蚀速度与偶极矩取向有关的特点，不同极性的畴腐蚀的程度不同，一般正电畴腐蚀速度快，而负电畴的速度要慢的多，从而在表面形成电畴结构对应的凹凸，于是可用显微镜直接观察这种电畴。
化学腐蚀法的缺点是对样品有破坏性，而且腐蚀过程较慢。
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