文献综述
引言：二维材料因其优异的物理和化学性质而受到广泛关注，而它的电子，热力学，光学，和机械性能强烈依赖于原子层的数量。
因此在二维材料研究领域中，高效、准确地确定层数是制备二维材料过程中最关键的步骤。
基于光学显微镜技术的高通量大面积薄层样品扫描系统可以为二维材料研究提供大量的实验样品图像，并通过图像对比度识别薄层层数，为二维材料的研究提供了海量的数据。
因此，需要开发一个二维材料的专用数据库，可自由存储、管理和检索样品的图像、材料种类，层数、面积、位置等关键信息。
这项工作将极大地提高特定特征图像及样品的识别检索的自动化程度，也为基于深度学习的识别系统提供更可靠的训练文件。
另外，此系统也可用于基础物理、材料科学、能源安全、芯片制造、光电探测等领域。
1、二维材料1.1、二维材料简介二维材料是厚度在单原子层到几个原子层厚度的材料，其发展始于始于2004年，Geim小组通过胶带对石墨进行了机械剥离成功得到了分离出单原子层的石墨材料石墨烯[1]。
正如石墨烯一样，其他二维晶体的研究不仅对于探索二维极限下新的物理现象和性能非常重要，而且在电子、光电子等领域具有诸多新奇的应用，因此，近年来，非石墨烯层状材料（二维六方氮化硼、过渡族金属硫化物、氧化物、黑磷等）的论文数量迅速增加。
[2]。
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