钾电流在小鼠神经病理性疼痛背根神经节细胞上的变化特征文献综述

 2022-12-29 06:12

开题报告内容:(包括拟研究或解决的问题、采用的研究手段及文献综述,不少于2000字)

背景介绍:

神经病理性疼痛(Neuropathic Pain,NPP)是源于或继发于神经系统受到损伤或产生功能病变而引起的慢性疼痛。以自发性疼痛,痛觉过敏和痛觉异常为特征[1]。其病因具有多样性,机制非常复杂,根据神经系统受损部位不同可分为周围性神经病理性疼痛和中枢性神经病理性疼痛。[2]一般周围神经性疼痛可能与背根神经节(dorsal root ganglion, DRG)细胞膜自发和持续性地异常放电有关。膜的兴奋性取决于神经元膜上表达的不同兴奋性和抑制性离子通道的空间分布。电压门控性钾通道通过控制神经元兴奋性调节痛觉传递其改变可能导致神经损伤后的痛觉过敏。 [3]

神经病理性疼痛是临床疼痛的常见症状, 镇痛机制研究中广泛使用和可靠的动物模型是坐骨神经慢性压迫性损伤(CCI)模型[4],它能够较为准确地模拟临床中周围神经损伤所引发的神经性病理疼痛,具有外周和中枢敏化特征。[5]该模型机制是由于机械压迫使轴突损伤并引起异位放电,并通过轻度结扎坐骨神经,进而铬制肠线嵌压于肿胀的神经而形成慢性束缚性损伤,损伤区远端的有髓鞘纤维几乎完全损伤,但仍保留大部分无髓鞘纤维[6]。研究显示疼痛是由轴突损伤引起的异位放电和结扎线处炎性因子刺激产生异位敏感度提高所致[7]。此模型为NPP和炎性痛的复合模型[8]

根据研究,对DRG神经元的钾离子通道阻断,可模拟周围神经损伤后形成的放大的自发放电活动[9],说明钾电流具有膜稳定作用,降低神经元兴奋性。所以,当钾通道开放时,钾外流增加,膜超极化缩短动作电位时程,使膜上Ca2 ,Na 通道开放几率降低,神经元兴奋性降低,神经病理性疼痛感减轻。

研究意义:

背根神经节(DRG)细胞具有假单极结构,是躯体初级感觉神经元细胞体的聚集处,由大(直径gt;40mm)、中(30mm-40mm)和小(直径30mm)直径不同、电生理特性各异的神经元组成[10]

许多研究证明外周神经病理性疼痛与背根神经节(DRG)神经元的兴奋性升高有关[11],背根神经节存在两种不同的钾电流:瞬间外向钾电流(TOCs) [12]、延迟整流钾电流(IK ) [13]。TOCs主要通过参与动作电位复极化过程,在调节神经元的放电频率、动作电位的产生方面具有重要的作用;IK的功能主要是加速极化状态的恢复, 缩短动作电位的时程,影响后续动作电位峰值和膜电位,从而保持细胞膜对兴奋的反应性, 保障动作电位在神经轴突上高速传导。它们是决定神经元放电频率和峰电位持续时间的关键因素。所以我们选择观察钾电流在神经病理性疼痛情况下的变化特征,探讨其可能发生的机制。

一些药物或毒物可造成钾离子通道的抑制或激活,如阻断剂蝎毒,四乙基铵离子;如焦亚硫酸钠可使大鼠背根节神经元瞬间外向钾电流(TOCs)和延迟整流钾电流(IK)增大, 使延迟整流钾电流的激活过程提前且抑制瞬间外向钾电流的失活[14]

因此,钾离子通道可以作为疼痛治疗的潜在靶标。

剩余内容已隐藏,您需要先支付 10元 才能查看该篇文章全部内容!立即支付

发小红书推广免费获取该资料资格。点击链接进入获取推广文案即可: Ai一键组稿 | 降AI率 | 降重复率 | 论文一键排版